集成電路 JW3510SOTA#TRPBF 失效分析
日期：2025-12-04 16:29:23 瀏覽量：330 作者：創(chuàng)芯在線檢測中心
綜上測試分析，失效品因EOS導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)燒毀而引起短路失效。
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綜上測試分析，失效品因EOS導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)燒毀而引起短路失效。
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